Fis. Luis Rendón Vázquez
Departamento de Estado Sólido, Instituto de Física
Título: Caracterización experimental del "strain" en grafeno mediante análisis inverso de patrones elípticos en la FFT de imágenes HRTEM
Resumen: En este trabajo se presenta un análisis experimental del strain (deformación interplanar relativa) en grafeno, basado en imágenes de alta resolución obtenidas por microscopía electrónica de transmisión (HRTEM). A partir de la transformada rápida de Fourier (FFT) de la imagen, se identificó un patrón elíptico en el espacio recíproco, en el cual se evidencia una anisotropía en los espaciados cristalinos.
